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SE050 キー管理シンプル化と不要チップ削除
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- ACTIVE_*マクロをシンプル化：チップ選択で ENC/MAC/DEK 全体が選択
- test_scp03_hardware.c: SE050C0 キーに整理
- SE050E0/E1 削除（実在しないため）
- 対応チップ：SE050C0, SE050C1, SE050E2 のみ
変更前：
ACTIVE_ENC_KEY = 条件付きマクロ
変更後：
ENC_KEY = 選択チップのキー
MAC_KEY = 選択チップのキー
DEK_KEY = 選択チップのキー
2026-03-26 10:06:34 +09:00
0a97209e8c
SE050 ハードウェア接続テスト追加
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- test_scp03_se050.c: 実機 SE050 接続テスト
- 対応チップ：SE050C0, SE050C1, SE050E0, SE050E1
- ifdef でチップ選択 (make SE050_CHIP=xxx)
- AN12436 デフォルト PlatformSCP03 キー使用
- 実 I2C HAL による接続/認証フローテスト
使用例:
make SE050_CHIP=SE050C0 test_se050
make SE050_CHIP=SE050E1 test_se050
2026-03-26 09:29:39 +09:00
e3177904eb
AN12436 デフォルトキーハードウェアテスト追加
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- 7 つのテストケースで AN12436 デフォルトキー検証
- モック I2C HAL で SE050 疎通シミュレーション
- 41/45 テスト合格（4 つはモックレスポンス形式の課題）
- 基本 SCP03 機能（暗号化/鍵設定/ファイル読み込み）は正常動作
- README.md に進捗状況更新
2026-03-26 08:00:08 +09:00
e8e412713b
Platform SCP03 セッション統合とテスト改善
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- Session に SCP03 コンテキストを統合 (se050_session_scp03_* API)
- PlatformSCP03 認証フロー実装
- テストを再記述 (42/42 パス)
- API ドキュメント更新
- ビルドシステム改善
2026-03-26 07:36:40 +09:00
c29a189b9a
Update SCP03 tests with PlatformSCP03 integration tests and documentation
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- Add PlatformSCP03 integration test cases (test_scp03_platform_integration, test_scp03_platform_key_file)
- Update test helpers with mock session creation
- Update README with PlatformSCP03 configuration guide
- Add references to NXP AN12413 and AN12436
- Fix test assertions to work with opaque session type
2026-03-26 07:27:23 +09:00
km